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| Hersteller-Teilenummer: | SN74ABT8952DL |
| Hersteller: | Texas Instruments |
| Teil der Beschreibung: | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP |
| Bleifreier Status / RoHS-Status: | Bleifrei / RoHS-konform |
| Lagerzustand: | 16564 Auf Lager |
| Liefern von: | Hong Kong |
| Versandweg: | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
Lagerbestand: 16564
Minimum: 1
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| Typ | Beschreibung |
|---|---|
| Produktstatus | Obsolete |
| logischer Typ | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver |
| Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
| Anzahl Bits | 8 |
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
| Befestigungsart | Surface Mount |
| Paket / Koffer | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| Gerätepaket des Lieferanten | 28-BSSOP |
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